OPTALIX | 几何分析能力

几何分析能力

点图：可以显示点与场，波长和缩放位置的关係，可以叠加或分开显示。

边缘光线像差：可以显示为横向光线像差或光程差。在一张纸上绘製了多配置（缩放）系统的像差，这提供了一个极好的概览（无需分别绘製每个位置）。

像散/场曲率：纵向场曲率图可以很好地描绘出Petzval曲率和像散的校正情况。显示了光学系统中使用的所有波长。

栅格变形：显示通过光学系统成像的矩形对象栅格的变形。

渐晕：渐晕图显示了机械限製或倾斜光束的阻碍。它减少了图像中的轴外照明。但是，它在确定离轴图像质量方面也起着重要作用。

足迹：在选定的表面上绘製光束的使用部分。由于该图显示了各个光束的截断方式，因此通常与渐晕分析结合使用。

次要光谱：近轴焦点的纵向位置与波长的函数关係，此处显示了合适的複消色差折射透镜。

透射比与表面：显示光学系统中每个表面对透射损耗的贡献。为系统中定义的所有字段绘製。左图显示了具有13个透镜（26个表面）的系统。每个表面对传输损耗的贡献在4％到9％之间（取决于透镜的折射率）。内透镜镀有抗反射涂层，而外透镜则没有。

透射率也可以针对波长或场作图。